* 金相显微镜MM-2C * 偏光显微镜XP-300C * 荧光显微镜M50C * 测量显微镜15J * 体视显微镜XTL3400 * 投影仪3015 * 硬度计HVS-1000
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WQL粒度仪
一、仪器简介 仪器基于固体颗粒的离心沉降和光透射原理测定颗粒的粒度大小及分布,采用变速测定方式,使1次测量的粒度范围比大于20:1。
二、仪器参数
转速范围:600~10000r/min 光信号稳定性:0.2%/30min 可测粒度范围:0.01~60μm 测试准确度:5% (使用原上海测试技术研究院所提供的二氧化硅标样)
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